近期，中国科学院上海光学精密机械研究所高功率激光元件技术与工程部研究团队，在利用不同激光损伤测试协议评估532nm薄膜偏振片的抗激光损伤性能和损伤机制方面取得新进展。相关成果以“Nanosecond laser damage of 532?nm thin film polarizers evaluated by different testing ...

集成电路的生产异常复杂，是人类制造业向微观世界发展的巅峰前沿。任何生产偏差，设计漏洞甚至一粒PM2.5都会导致芯片出现各种缺陷，事实上生产过程中的造成defect的颗粒大小远远小于PM2.5 。Scan Chain(扫描链测试)作为数字集成电路测试的重要方法之一，可以 ...